2009年11月27日至29日，我院王伟博士赴香港中文大学参加第10届IEEE Workshop on RTL and High Level Testing(WRTLT’09)学术会议。IEEE Workshop on RTL and High Level Testing是2009年底最重要的VLSI测试与容错会议之一，吸引了来自全球多所知名大学、研究机构的专家、学者到会。

王伟博士作为本次会议的出版主席，全权负责本次会议征文通知与海报的制作、会议网站的设计与制作、会议论文集的制作与印刷，受到了与会专家的一致好评。王伟博士也成功的利用本次会议的机会，扩大了bat365中文官方网站官网的知名度。王伟博士借各种场合，创造机会，向世界各地的多位专家介绍了bat365中文官方网站官网bat365官网登录入口，并邀请他们下次访问亚洲或中国顶级大学时，能够来我院走走、看看，扩大学院与国际顶级大学、科研机构的交流。